Loresta-GX MCP-T700低電阻計（又稱低阻抗率計）是日本三菱化學株式會社（Mitsubishi Chemical）旗下日東精工分析科技推出的一款高精度測量儀器。這款儀器基于四探針測試原理，能夠精準快速地測試材料的低電阻特性，有效消除了探頭接觸電阻和導線電阻的影響。

其鍍金彈簧探針確保針距恒定，且與測試樣品接觸的壓力恒定，保證了測量結(jié)果的一致性和可靠性。 該儀器設(shè)計精良，操作便捷，廣泛應(yīng)用于多個工業(yè)領(lǐng)域和質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。

01 應(yīng)用行業(yè)領(lǐng)域

Loresta-GX MCP-T700的低電阻測量能力使其在眾多工業(yè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。

在電子與半導體行業(yè)中，它用于測量硅晶圓、導電薄膜、ITO玻璃（氧化銦錫玻璃）、金屬鍍膜等材料的電阻特性。 這些材料是制造顯示屏、觸摸屏、集成電路等電子元件的關(guān)鍵，其導電性能直接影響產(chǎn)品的性能和可靠性。

功能性材料產(chǎn)業(yè)也是該儀器的重要應(yīng)用領(lǐng)域。這包括導電涂料、導電油墨、導電膠（尤其是碳基材料）、導電塑料、導電橡膠等。

這些材料通常用于制造防靜電產(chǎn)品、電磁屏蔽（EMI屏蔽）材料、導電纖維和導電陶瓷，廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車制造、電子產(chǎn)品包裝以及特種工作環(huán)境的安全防護。

在材料科學與工程研發(fā)中，研究人員利用該儀器評估各種新材料的導電性能，如新型金屬合金（如鎂合金）的電鍍層和表面處理層。

準確的電阻測量對于理解材料特性、優(yōu)化工藝流程至關(guān)重要。

02 技術(shù)特點與性能優(yōu)勢

Loresta-GX MCP-T700具備多項突出的技術(shù)特點和性能優(yōu)勢，使其在工業(yè)檢測和科學研究中成為可靠的工具。

其測量范圍極寬，從0.001×10?? Ω到9.999×10? Ω，覆蓋了從超低導電材料到較高電阻材料的廣泛范圍。

測量精度高，可達±0.5%，確保了數(shù)據(jù)的準確性和可靠性。

該儀器采用7.5英寸真彩色TFT-LCD觸摸屏，分辨率高達640×480，操作界面直觀，方便用戶進行快捷操作和數(shù)據(jù)讀取。

它新增了硅晶體測試模式和一鍵自動測試功能（Auto-hold和Timer Model），測試完成后自動停止并保持測試值，大大提高了檢測效率。

測試電流施加的極性可轉(zhuǎn)換，這一特性進一步提升了測試結(jié)果的準確性。

儀器能根據(jù)樣品尺寸自動計算電阻率校正因數(shù)（RCF），并支持四種測試單位（Ω、Ω/□、Ω·cm、S/cm）的轉(zhuǎn)換，滿足了不同應(yīng)用場景的需求。

數(shù)據(jù)管理方面，它支持USB閃存存儲和數(shù)據(jù)傳輸，方便用戶保存、導出和分析測量數(shù)據(jù)。

03 功能設(shè)計與配置靈活性

Loresta-GX MCP-T700的設(shè)計充分考慮了實際應(yīng)用的多樣性和復雜性，提供了高度的配置靈活性。

儀器支持更換多種專用探頭，以適配不同的測量場景和樣品類型。 常用的探頭包括：

• ASP探頭：通用型標準探頭，符合JIS K7194標準，針間距5mm，適用于常規(guī)測量。

• PSP探頭：針間距較?。?.5mm），針尖更精細，適用于小樣品或薄膜測量。

• ESP探頭：針對不均勻樣品設(shè)計，針尖較大（2mm×4支），壓力240g/支。

• TFP探頭：專用于硅晶圓（Si wafer）上的薄膜測量，針間距1.0mm，針尖半徑0.15R。

• NSCP探頭：專為硅晶圓（Silicone wafer）設(shè)計，針尖極細（半徑0.04R），壓力250g/支。

每種探頭通常配有專用的校準塊（探頭檢驗片），用于在測量前進行檢查和校準，確保測量結(jié)果的準確性。

儀器還具備樣品保護功能，用戶可以根據(jù)測試需要選擇10V或90V的測量電壓，避免過高的電壓損壞敏感樣品。

其緊湊的臺式設(shè)計（約320mm × 285mm × 110mm，重2.4kg）使其能夠方便地安置在實驗室、研發(fā)室或生產(chǎn)現(xiàn)場的環(huán)境。

04 實際應(yīng)用價值

Loresta-GX MCP-T700的低電阻計在工程生產(chǎn)、質(zhì)量控制和研發(fā)過程中提供了重要的應(yīng)用價值。

在生產(chǎn)線上，它能夠?qū)崿F(xiàn)快速、無損檢測，幫助廠商實時監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量，立即發(fā)現(xiàn)導電涂層不均勻、鍍層缺陷或材料配方問題。

在質(zhì)量控制環(huán)節(jié)，其高精度和可重復性確保了產(chǎn)品符合國際標準（如ISO 1853、ISO 2878、ASTM D991、JIS K 7194等）和客戶要求。

對于研發(fā)人員而言，該儀器提供了深入理解材料導電行為的可靠數(shù)據(jù)，加速了新材料的開發(fā)進程，助力優(yōu)化現(xiàn)有配方和工藝流程。

Loresta-GX MCP-T700憑借其廣泛的測量范圍、高精度和靈活的探頭配置，成為電子半導體、功能性材料、表面處理等多個行業(yè)質(zhì)量控制和研發(fā)工作中不可少的工具。

其先進的四探針技術(shù)不僅消除了測量誤差源，更為用戶提供了可靠的數(shù)據(jù)支持，幫助各行各業(yè)持續(xù)提升產(chǎn)品質(zhì)量和技術(shù)創(chuàng)新能力。